X射線熒光鍍層測厚材料分析儀

德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀采用手動或自動方式，測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。

德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀應用領域：

大批量電鍍件測量

防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻

電鍍行業槽液分析

線路板行業如薄金，鉑和鎳鍍層的策略

測量接插件和觸點的鍍層

電子和半導體行業的功能性鍍層測量

黃金，珠寶和手表行業

德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀技術參數：

1、工作臺：

設計：馬達驅動可編程X/Y平臺

移動范圍：255x 235mm

X/Y平臺移動速度：≤80 mm/s

X/Y平臺移動重復精度：≤0.01 mm，單向

可用樣品放置區域：300 x 350mm

Z軸：可編程運行

Z軸移動范圍：140mm

樣品:重量5kg，降低精度可達20kg

樣品:高度140mm

2、環境要求：

使用時溫度：10℃- 40℃

存儲或運輸溫度：0℃ - 50℃

空氣相對濕度：≤95%,無結露

3、計算單元：

計算機：帶擴展卡的計算機系統

軟件：標準:WinFTM V.6 LIGHT、可選:WinFTM V.6 BASIC，PDM，SUPER

4、執行標準：

CE合格標準：EN 61010

X射線標準：DIN ISO 3497和ASTM B 568

型式批準：型式許可符合德國"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規規定。

5、通用規格：

設計用途：能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXRF)用來測量薄鍍層和微小結構，分析合金和微量組分。

元素范圍：從元素氯(17)到鈾(92)，配有可選的WinFTM BASIC軟件時，可同時測定24種元素。

形式設計：臺式儀器，測量門向上開啟

測量方向：從上到下

6、X射線探測：

X射線接收器：比例接收器

測量距離：0 ~ 80mm，使用專有保護的DCM測量距離補償法

7、視頻系統：

視頻系統：

CCD彩色攝像頭，沿著初級×射線光束方向觀察測量位置對被測工件進行監控，可自動對焦或手動聚焦

十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸)可調節亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品

放大倍數：40x-160x

8、電氣參數：

電源要求：交流220v 50Hz

功率：120W(不包括計算機)

保護等級：IP40

9、尺寸規格：

外部尺寸：寬×深×高[mm]:570 x760 x 650

內部測量室尺寸：寬×深×高[mm]: 460 x 495 x 146

重量：120kg