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    HORIBA(中國)

    PRODUCT DISPLAY

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    模塊化科研級穩瞬態熒光光譜儀

    參  考  價:面議
    具體成交價以合同協議為準

    產品型號:Fluorolog-QM

    品       牌:HORIBA

    廠商性質:生產商

    所  在  地:上海市

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    更新時間:2025-10-20 21:03:11瀏覽次數:886次

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    產地 進口 產品新舊 全新
    靈敏度 優于35000:1 波長準確度 優于±0.1nm
    分辨率 優于±0.1nm 狹縫(光譜通帶) 180-5500nm
    色散單元 光柵
    HORIBA Fluorolog-QM模塊化科研級穩瞬態熒光光譜儀:代表了五十多年HORIBA 的熒光行業先進經驗以及制造高水平和功能多樣性的熒光光譜儀。相較于其他科研級熒光光譜儀,Fluorolog-QM 以其全波長范圍內的反射性能以及眾多的光源和檢測器選擇方案,全套壽命技術擴展了壽命測試波長范圍至5500nm,以及顯微鏡、X射線、低溫量子產率、偏振、遠程測試、變溫高溫等多種附件選擇方案等優勢,

    HORIBA 模塊化科研級穩瞬態熒光光譜儀

    Fluorolog-QM 代表了五十多年HORIBA 的熒光行業先進經驗以及制造高水平和功能多樣性的熒光光譜儀。相較于其他科研級熒光光譜儀,Fluorolog-QM 以其全波長范圍內的反射性能以及眾多的光源和檢測器選擇方案,全套壽命技術擴展了壽命測試波長范圍至5500nm,以及顯微鏡、X射線、低溫量子產率、偏振、遠程測試、變溫高溫等多種附件選擇方案等優勢,為熒光測試提供高靈敏度和無限拓展性。

     

    “儀器性能、通用性及操作便捷性的飛躍提升” 

    l  反射式光路設計,保證全波長范圍準確聚焦,無需調整光路,性能全優化,這是高靈敏度的保證

    l  具備優勢的雜散光抑制比,像差校正長焦長單色儀(單級:350 mm,雙級:700 mm)

    l  配備專業分析軟件,滿足所有穩態和壽命測試需求,具有多種新型壽命擬合功能

    l  擴展波長范圍,光路由氣氛保護,保證深紫外到近紅外區域的檢測

    l  可同時連接4種光源和6個檢測器,且全部由電腦控制,實現多功能測試

    l  即插即用,100 MHz脈沖光源,強化TCSPC壽命功能

    l  近紅外穩態和磷光壽命檢測波長至5500 nm

    l  優化的光學設計,氙燈光源擴展深紫外激發(低至180 nm),無臭氧

     

    HORIBA Fluorolog-QM模塊化科研級穩瞬態熒光光譜儀

    高靈敏度 

    Fluorolog-QM具有HORIBA PowerArcTM型氙燈光源配合橢球形反射鏡,實現70%超高聚光效率,并可將光束聚焦在單色儀狹縫處極小的點上,可更快速地激發樣品,減少光源功率過大帶來的高能耗與高熱量,維護成本也顯著降低。 

    Fluorolog-QM采用了像差校正的單色儀,該單色儀針對光通量與雜散光進行了優化,也保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。 

    全反射式聚焦光路,使得全光譜范圍(180~5500nm)準確聚焦樣品表面,保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。 

    高分辨率 

    Fluorolog-QM系列熒光光譜儀使用350 mm焦長非對稱Czerny-Turner設計單色儀,帶有電動三光柵塔輪和電動轉折鏡,超過30種光柵可選。 

    通過電腦控制高精度微步電機和優化后的光柵相結合,實現小至0.01 nm步進,與光學設計、長焦長、全反射光學和抑制光學像差相結合,可實現優于0.1nm的高光譜分辨率。 

    雜散光抑制顯著 

    Fluorolog-QM系列熒光光譜儀,配備50 mm焦長非對稱式Czerny-Turner單色儀,采用光路像差校正,分別針對激發、發射側獨立優化,確保高雜散光抑制能力,獲得熒光信號。單級單色儀具有1×10-5的高雜散光抑制比,為了實現更高的靈敏度和光譜性能,Fluorolog-QM還可配置兩個350 mm焦長的單色儀,從而實現 700 mm焦距和1×10-10雜散光抑制比,相較于其他熒光光譜儀,HORIBA 雙級中間狹縫光學設計(軟件控制),進一步優化分辨率和雜散光抑制比。 

    滿足不同測試需求的多種硬件配置解決方案 

    Fluorolog-QM系列采用開放式的結構設計,可實現無限擴展,滿足未來任何可能的熒光應用需求。您可以通過選擇光源、光柵和檢測器以及大量可用的附件來優化最初配置??蛇x配置多種多樣! 

    可同時連接4種光源和6個檢測器,且全部由電腦控制,實現多功能測試。 

    配合TCSPC,MCS,SSTD和真實門控技術,保證了全光譜穩瞬態(皮秒~秒及長余輝測試)、磷光光譜(延遲光譜)測試功能。 

    TCSPC壽命測量 

    Fluorolog-QM 系列輕松擴展TCSPC 壽命測試系統。利用先進的TCSPC 激發光源,電子計時單元和檢測器,Fluorolog-QM 可提供快速的測試,強大的通用性。 

    l  所有的穩態/ 時間分辨控制,采集和分析都在FelixFL 軟件中進行。

    l  超過40 年的TCSPC 研發和生產經驗

    l 100 MHz操作系統,實現毫秒內完成采集

    l  根據壽命測試時間范圍,軟件自動控制脈沖光源頻率

    l  TCSPC 壽命測試范圍從5 ps到s

    l  FelixFL軟件包實現穩/瞬態采集

    l  可測量TCSPC壽命、時間分辨各向異性和時間分辨發射光譜(TRES)

    l  超過60個先進的脈沖LED和脈沖激光可供選擇

    l  配合HORIBA倍頻器,擴展皮秒超連續激光器的多用途—研究蛋白時間分辨的強大工具

    l  壽命衰減曲線分析包具有多種擬合模型,包括最大熵法(MEM)壽命分布程序

     

    近紅外解決方案(適合熱點研究應用:稀土、量子點、AIE、近紅外二區探針等) 

    SSTD磷光檢測模式是所有Fluorolog-QM系統的標配功能,為近紅外樣品的近紅外發光研究提供解決方案。SSTD測試速度比傳統的MCS技術快8倍,并且不受檢測器類型限制(MCS技術只能配合PMT檢測器),從而擴展壽命檢測范圍至5500nm。 

    Fluorolog-QM可配備多個光源和檢測器,以覆蓋最寬波長范圍的穩態光譜,熒光和磷光壽命測試需求??蓞⒖家韵屡渲?

    l  配置R928 PMT、NIR PMT(H0330或R5509-73市場主流型號)、InGaAs和InSb檢測器的雙發射單色儀覆蓋范圍從185 nm到5500 nm

    l  用于穩態光譜的連續氙燈

    l  20 Hz Q調制開關/OPO激光器,用于210 nm到2200 nm的可調激發

    l  180 nm到5500 nm的穩態光譜

    l  單脈沖實時采集技術(SSTD)用于測量從185 nm到5500 nm范圍內的磷光衰減

     

    多種近紅外熒光測試解決方案 

    NIR PMT檢測器

    NIR PMT檢測器具有超高靈敏度,同時適用于穩態和TCSPC壽命測量,目前TCSPC電子設備是獲得皮秒到納秒熒光壽命的選擇選擇。

    4款NIR PMT,滿足寬光譜覆蓋范圍

    l  300~1400 nm,液氮制冷

    l  300~1700 nm,液氮制冷

    l  950~1400 nm,電制冷

    l  950~1700 nm,電制冷

     

    固態光電二極管近紅外檢測器

    HORIBA可提供多種光電二極管,包含LN制冷,檢測范圍可擴展至5500 nm。

    l  InGaAs: 800~1700 nm/1900/2100/2600 nm

    l  InAs: 1000~3450 nm

    l  InSb: 1500~5500 nm

     

    NIR 壽命測量波長范圍可達5500 nm!

    以上列出所有檢測器均可在單脈沖磷光(SSTD)模式中用于NIR發光壽命測量,壽命測量范圍可從1微秒至秒。SSTD技術具有超快檢測速度和超高的信噪比:

    l  可調超高頻閃爍氙燈,用于熒光壽命測試

    l  第三方脈沖Q調制激光器

    l  相較于NIR PMT,固態近紅外檢測器提供更高性價比的磷光檢測方案。

     

    強大的FelixFL軟件

    Fluorolog-QM 熒光光譜儀集成FelixFL軟件,實現儀器硬件和附件控制。FelixFL作為新型軟件平臺,界面友好,操作簡單,可用于所有穩態及時間相關光譜的采集和分析。通過USB接口連接,FelixFL即可擁有全套數據采集支持,實現控制所有系統配置和運行多種操作模式。

     

    高級運算

    FelixFL軟件提供多種定制化功能,包括量子產率、吸收、FRET,色坐標計算,以及單壁碳納米管結構參數等。這對擴展(例如積分球和吸收附件)數據分析非常方便,并且對于一些熒光應用也*,例如分子間相互作用(FRET)和材料表征。

    l  單壁碳納米管結構計算

    l  色坐標計算

    l  吸收計算器

    l  絕對量子產率

    l  FRET熒光共振能量轉移

     

    多種附件可選

    Fluorolog-QM系列具有全面的配件系統,研究人員可以根據實驗需求,不斷擴展儀器功能

    l  絕對量子產率測量積分球附件

    l  偏振附件

    l  吸收/透射附件

    l  微量比色皿:250 μl 微量樣品池;500μl 比色皿5×5 mm

    l  2位和4位磁力攪拌控溫樣品支架

    l  4位磁力攪拌樣品支架

    l  液氮或液氦低溫恒溫器

    l  固體樣品架,測試角度360°可調,滿足樣品前表面熒光測量,適用于薄膜,粉末,顆粒,紙張,纖維和顯微載玻片等樣品測量

    l  自動滴定儀雙注射,雙閥

    l  Hi-tech SFA-20超快停留動力學附件

    l  密封防刮標準水樣品,用于水拉曼S/N驗證

    l  發射校正因子附件

    l  激發校正因子附件

    l  上轉換激光附件

    l  20 μl HPLC 流動樣品池

    l  X射線源

    l  顯微鏡

    l  高溫附件

    l  變溫量子產率

     

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